Apmeklētājiem elektronikā 2024

Rezervējiet savu laiku tūlīt!

Viss, kas nepieciešams, ir daži klikšķi, lai rezervētu savu vietu un iegūtu kabīnes biļeti

C5 Hall 220 kabīne

Iepriekšēja reģistrācija

Apmeklētājiem elektronikā 2024
Jūs visi reģistrējaties! Paldies, ka norunājāt tikšanos!
Kad būsim pārbaudījis jūsu rezervāciju, mēs jums nosūtīsim kabīnes biļetes pa e -pastu.
Mājas > Produkti > Integrētas shēmas (IC) > Loģika - specialitātes loģika > SN74BCT8240ADWRE4
RFQs/pasūtījums (0)
Latviešu
Latviešu
6025359

SN74BCT8240ADWRE4

Pieprasīt citātu

Lūdzu, aizpildiet visus nepieciešamos laukus ar savu kontaktinformāciju. Noklikšķiniet uz "Iesniegt RFQ", mēs drīz sazināsimies ar jums pa e -pastu.Vai nosūtiet mums e -pastu:info@ftcelectronics.com
Izmeklēšana tiešsaistē
Specifikācijas
  • Daļas numurs
    SN74BCT8240ADWRE4
  • Ražotājs / zīmols
    Luminary Micro/Texas Instruments
  • Krājumu daudzums
    Noliktavā
  • Apraksts
    IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
  • Svina bezmaksas statuss / RoHS statuss
    Svins bez / atbilst RoHS prasībām
  • ECAD modelis
  • Barošanas spriegums
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Piegādātāja ierīču komplekts
    24-SOIC
  • Sērija
    74BCT
  • Iepakojums
    Tape & Reel (TR)
  • Iepakojums / lieta
    24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • Darbības temperatūra
    0°C ~ 70°C
  • Bitu skaits
    8
  • Montāžas tips
    Surface Mount
  • Mitruma jutīguma līmenis (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Loģikas tips
    Scan Test Device with Inverting Buffers
  • Svina bezmaksas statuss / RoHS statuss
    Lead free / RoHS Compliant
  • Detalizēts apraksts
    Scan Test Device with Inverting Buffers IC 24-SOIC
  • Bāzes daļas numurs
    74BCT8240

Unleashing High-Performance DSP: A Deep Dive into TI TMS320...

2024/11/15

Texas Instruments: An all-round player from analog to embedded

2024/11/14
Pārvadāšana
Maksājums
Šis ir ar “SN74BCT8240ADWRE4” saistītie produkti.
SN74BCT8240ADW

SN74BCT8240ADW

Apraksts: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Ražotāji: Luminary Micro / Texas Instruments
Noliktavā
RFQ
SN74BCT760N

SN74BCT760N

Apraksts: IC BUF NON-INVERT 5.5V 20DIP

Ražotāji: Luminary Micro / Texas Instruments
Noliktavā
RFQ
SN74BCT8244ADWE4

SN74BCT8244ADWE4

Apraksts: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Ražotāji: Luminary Micro / Texas Instruments
Noliktavā
RFQ
SN74BCT760DWR

SN74BCT760DWR

Apraksts: IC BUF NON-INVERT 5.5V 20SOIC

Ražotāji: Luminary Micro / Texas Instruments
Noliktavā
RFQ
SN74BCT8244ADW

SN74BCT8244ADW

Apraksts: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Ražotāji: Luminary Micro / Texas Instruments
Noliktavā
RFQ
SN74BCT760DW

SN74BCT760DW

Apraksts: IC BUF NON-INVERT 5.5V 20SOIC

Ražotāji: Luminary Micro / Texas Instruments
Noliktavā
RFQ
SN74BCT8240ANT

SN74BCT8240ANT

Apraksts: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Ražotāji: Luminary Micro / Texas Instruments
Noliktavā
RFQ
SN74BCT8240ADWR

SN74BCT8240ADWR

Apraksts: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Ražotāji: Luminary Micro / Texas Instruments
Noliktavā
RFQ
SN74BCT8240ANTG4

SN74BCT8240ANTG4

Apraksts: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Ražotāji: Luminary Micro / Texas Instruments
Noliktavā
RFQ
SN74BCT760NSR

SN74BCT760NSR

Apraksts: IC BUFFER NON-INVERT 5.5V 20SO

Ražotāji: Luminary Micro / Texas Instruments
Noliktavā
RFQ
SN74BCT8244ADWR

SN74BCT8244ADWR

Apraksts: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Ražotāji: Luminary Micro / Texas Instruments
Noliktavā
RFQ
SN74BCT760DWRG4

SN74BCT760DWRG4

Apraksts: IC BUF NON-INVERT 5.5V 20SOIC

Ražotāji: Luminary Micro / Texas Instruments
Noliktavā
RFQ
SN74BCT8245ADWR

SN74BCT8245ADWR

Apraksts: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Ražotāji: Luminary Micro / Texas Instruments
Noliktavā
RFQ
SN74BCT760DWG4

SN74BCT760DWG4

Apraksts: IC BUF NON-INVERT 5.5V 20SOIC

Ražotāji: Luminary Micro / Texas Instruments
Noliktavā
RFQ
SN74BCT8245ADW

SN74BCT8245ADW

Apraksts: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Ražotāji: Luminary Micro / Texas Instruments
Noliktavā
RFQ
SN74BCT8244ANT

SN74BCT8244ANT

Apraksts: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Ražotāji: Luminary Micro / Texas Instruments
Noliktavā
RFQ
SN74BCT8240ADWRG4

SN74BCT8240ADWRG4

Apraksts: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Ražotāji: Luminary Micro / Texas Instruments
Noliktavā
RFQ
SN74BCT760MDWREP

SN74BCT760MDWREP

Apraksts: IC BUF NON-INVERT 5.5V 20SOIC

Ražotāji: Luminary Micro / Texas Instruments
Noliktavā
RFQ
SN74BCT8244ANTG4

SN74BCT8244ANTG4

Apraksts: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Ražotāji: Luminary Micro / Texas Instruments
Noliktavā
RFQ
SN74BCT757N

SN74BCT757N

Apraksts: IC BUF NON-INVERT 5.5V 20DIP

Ražotāji: Luminary Micro / Texas Instruments
Noliktavā
RFQ
Kā vienīgais publiskais atvērtā tirgus izplatītājs, mums ir unikāla globālās piekļuves, ražošanas nozares kompetences un pārbaudītas kvalitātes kombinācija.Ar to mēs varam izveidot pielāgotus, visaptverošus piegādes ķēdes risinājumus elektronikas komponentu iegūšanai un krājumu pārvaldībai.
Seko mums
NoteikumiPārkāpuma politikaPieprasiet cenuPar mumsSazinies ar mumsJaunumsVietņu karte

Izvēlēties valodu

Noklikšķiniet uz vietas, lai izietu

Pašreizējā valoda

Izvēlieties savu valsti vai reģionu.